Wyjątkowa gama cyfrowych funkcji sprawia, że to jeden z najpotężniejszych wielozadaniowy programów dostępnych na rynku. Jest to w pełni zintegrowany system analizy obrazu mikroskopowego z możliwością bezposredniej kontroli zmotoryzowanych elementów mikroksopu. Nabywcami sa przeważnie laboratoria szukające elastycznych rozwiązań, wydajność, dokładnosci wyników i standaryzacji raportów.
Od pomiaru wielkości ziarna i analizy grubości warstw do zliczania cząstek, Clemex Vision to intuicyjne oprogramowanie, które umożliwia użytkownikowi łatwe wykonywanie analiz obrazu mikroskopowego. Pakiety gotowych aplikacji (makr) kompatybilnych z wersjami Clemex Vision PE oraz Vision Lite zostały wcześniej przygotowane w oparciu o międzynarodowe normy. Otwartość systemu pozwala na opracowywanie nowych makr i szablonów analizy według zindywidualizowanych potrzeb klienta.
Wielkość ziaren – Grain Size
Aplikacja umożliwia użytkownikom pomiar wielkości ziarna oraz długość granic ziarn zgodnie z normami ASTM E 112, ASTM E 930, and ASTM E1382
Grubość warstw- Layer Thickness
Aplikacja umożliwia pomiar grubości warstw powierzchniowe będących warstwami metali, związków metali, węglików czy tlenków ( pomiar zgodnie z normą ASTM B487). Pomiarom można poddać zarówno powłoki porowate jaki i powłoki składające się z wielu warstw.
Rozmiar cząstek – Particle Size
Aplikacja ta pozwala użytkownikowi na pomiar wielkości oraz kształtu cząstki ( pomiarom można poddać nawet cząstki o średnicy 0,5 µm). Aplikacja umożliwia również pomiar porowatości materiału (udział porów w materiale, wielkość porów).
Analiza fazowa – Phase Analysis
Aplikacja umożliwia użytkownikowi analizę mikrostruktury pod kątem objetościowego udziału faz w materiale. Analizie mogą być poddane zarówno materiały dwuwazowe jak i wielofazowe.
