Doskonałe Narzędzie do Obserwacji Trójwymiarowych Obiektów
Mikroskopy Serii X2000 zostały stworzone specjalnie do prowadzenia stereoskopowych obserwacji drobnych trójwymiarowych obiektów w świetle pochodzącym i odbitym. Dzięki różnym rodzajom podstaw i oświetlaczy, ten mikroskop jest wszechstronny i przystosowany do badania różnorodnych obiektów – od owadów i roślin po elementy elektroniczne i mechaniczne.
Główne cechy mikroskopu Serii X2000:
Mikroskop Serii X2000 to doskonałe narzędzie dla wszystkich, którzy potrzebują precyzyjnych obserwacji trójwymiarowych obiektów i chcą stworzyć kompletną dokumentację swoich badań.
Dowiedz się więcej o Mikroskopie Serii X2000 i jego zaawansowanych możliwościach.
Parametr | Opis szczegółowy |
---|---|
Głowica | Dwuokulorowa klasyczna lub opcjonalna głowica z kątową regulacją kąta pochylenia okularów. Równoległe tory optyczne, zoom w zakresie:
|
Obiektywy | Planachromatyczny obiektyw, okulary o bardzo dużym polu widzenia 10x22mm; regulacja dioptryjna +/-5 dioptrii |
Zakres powiększenia | W wyposażeniu standardowym 8-80x (głowica 1:10). Od 8x do 330x (w wyposażeniu opcjonalnym – głowica 1:10) |
Podstawa | Do światła przechodzącego i odbitego z regulacją jasności oświetlaczy EPI/DIA |
Oświetlenie | Diodowe (standard) |
Regulacja ostrości | Współosiowe pokrętła regulacji ostrości mikro/makro |
Możliwość rozbudowy | Opcjonalny moduł FL – oświetlenia Fluorescencyjnego; systemy oświetlenia pierścieniowego i kątowego OPTA-TECH, PHOTONIC, SHOTT |
Podstawa opcjonalna | Możliwość indywidualnego dopasowania rodzaju podstawy do obserwacji w świetle odbitym i przechodzącym podstawy z wysięgnikami (sprężynowe i z przeciwwagami) wolnostojące lub mocowane do blatu |